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光學(xué)熱膨脹儀比傳統(tǒng)膨脹儀相比的優(yōu)勢盡在本篇
更新時間：2022-06-24 點(diǎn)擊次數(shù)：4055
光學(xué)熱膨脹儀采用陰影光的方法進(jìn)行樣品測定。通過測量CCD探測器上樣品的陰影來測量一個方向上樣品的尺寸的大小。
高強(qiáng)度的LED光束發(fā)出平面光，通過一個擴(kuò)散單元和準(zhǔn)直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。
有陰影的光束通過遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精細(xì)處理，并由高分辨率的CCD探測器記錄。數(shù)字邊緣檢測自動確定陰影的寬度，進(jìn)而測定樣品的尺寸。
與傳統(tǒng)膨脹儀相比，光學(xué)熱膨脹儀采用聚焦LED光束，樣品的平面性及表面粗糙度不會對測量精度造成顯著影響，這樣能夠顯著簡化樣品制備過程。儀器使用非接觸式測量，允許樣品自由膨脹及收縮，不會受到機(jī)械接觸引起的干擾。
光學(xué)熱膨脹儀的性分析如下：
因為沒有直接施加負(fù)載到樣品上，因此即便是柔軟的材料也可以獲得的測量精度。
包括薄膜，或質(zhì)地柔軟測量或在實(shí)驗過程中發(fā)生軟化的材料。
由于與測量系統(tǒng)無物理接觸，進(jìn)一步提高了溫度均勻性。頂桿可以作為散熱件，在與樣品接觸點(diǎn)處產(chǎn)生熱點(diǎn)或冷點(diǎn)。而DIL806是沒有這些接觸點(diǎn)，確保了整個樣品在整個實(shí)驗過程中溫度的均勻，無需考慮實(shí)驗中的溫度分布。
廣泛的測量面積大大簡化了樣品位置。儀器的測量面積，寬30毫米，在這個范圍內(nèi)的任何位置放置樣品，儀器均能表現(xiàn)出的工作性能。這樣就簡化了樣品裝載，去除樣品位置的嚴(yán)格限制。
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